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    ID装置晶片测试仪
    CT3000

    NFC、CPU、内存、射频识别设备晶片测试

    主要特点

     

    • 最多416个并行测试设备
    • 接触式、非接触式、双接口式、NFC
    • 支持自定义协议
    • 参数和功能测试
    • 智能卡设备系列套件编辑器

    最高的多站点零占用空间测试仪

     

    CT3000测试仪可以并行测试多达416个同步或异步设备,并在晶片级测试射频识别设备(并行256个设备)时提供最高的管脚计数。

    该系统可通过铰链操纵器与晶片探针对接,做到真正的零空间解决方案,同时在测试资源和被测设备之间实现直接、无电缆连接:始终保证信号的最佳完整性。

    可对每个被测设备的异步专用资源进行真正的异步测试,每个模具都有静态或动态测量。

    RFID测试

    CT3000射频识别通道可以对阻抗、反向调制指数、FDT时间进行非常精确和可靠的并行测量。

    该通道可以对被测设备的通信协议进行实时编码和解码。

    每个通道还配有一个控制器,可对被测设备的通信协议进行真正的并行解码,从而对内部??榻峁菇型暾墓δ懿馐?。

    通道配有专用的CPU,以允许对定制协议进行完全编程测试。

    测试频率范围为125kHz至15MHz(低频/高频)

    随时可对所有智能卡??榻胁馐?/a>

    开放的且可配置的CT3000测试仪,可对智能卡所使用的任何通信协议进行测试,并针对新技术进行更新。

    该系统可以基于通用标准协议(例如,ISO 18000、EPC Global Gen 2、ISO 14443、ISO 15693、MIFARE?、DESFIRE?、FeliCa?、ISO 11784/85、ICode?、Hitag?、ISO 7816)对设备进行测试,同时还可以使用完全由设备制造商定义的协议进行功能验证。

    超精密测量用时短

    CT3000的最新技术模拟仪器可缩短测试时间,并进行非常精确的测量。

    DVM单元能够对所获得的数值进行数据处理和数学计算。这样,即可以确保精确测量,又不会影响单站点或多站点并行测量的数据交换。

    测试能力

    • 开路/短路/泄漏初步测试
    • 阻抗测量
    • 无源器件测试
    • 射频识别设备的单一命令或命令调整
    • 信号清晰度和强度

    测试程序生成和调试<1天

     

    • 易于操作&功能强大的软件
    • 射频识别信号形状图
    • 信号查看器和数据分析器
    • 智能卡测试功能库
    • 调试软件
    • 生产软件
    装置

    双重接口

    智能卡

    射频识别

    NFC

    Design & Code by dsweb.lab
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